Merenja u mikroelektronici (EKM)

Semestar: 7

Modul: Elektronske komponente i mikrosistemi (EKM)

Šifra predmeta: 2OEM7A02

Fond časova: 2+2+1

Nastavnici:                

Predavanja: doc. dr Milan M. Simić

Vežbe: dr Jelena Đorđević Kozarov, doc. dr Jelena R. Jovanović

Opis: Edukacija i upoznavanje studenata sa osnovnim teorijskim i praktičnim znanjima vezanim za merenje osnovnih parametara analognih i digitalnih elektronskih komponenata i kola.

Način ocenjivanja: Aktivnost na predavanjima i vežbama, Kolokvijum. Pismeni ispit.

Termin predavanja: Konsultativna nastava, u dogovoru sa predmetnim nastavnikom, e-mail, MS-Teams

Termin računskih: Konsultativna nastava, u dogovoru sa predmetnim saradnicima, e-mail, MS-Teams

Termin laboratorijskih: Konsultativna nastava, u dogovoru sa predmetnim saradnicima, e-mail, MS-Teams

Materijal:  (http://moodle.elfak.ni.ac.rs)

  

Plan realizacije:

TEORIJSKA NASTAVA (PREDAVANjA)

NedeljaNastavna jedinicaIzvođač nastaveBroj časova
1.Merenje, kontrola i ispitivanje integrisanih mikroelektronskih kola.Doc. dr Milan M. Simić2
2.Uloga i značaj merenja parametara mikroelektronskih komponenata i kola.Doc. dr Milan M. Simić2
3.Osnovni tipovi testova integrisanih kola (IC).Doc. dr Milan M. Simić2
4.Osnovi test inženjeringa.Doc. dr Milan M. Simić2
5.Tehnike testiranja neprekidnosti veza.Doc. dr Milan M. Simić2
6.Metode merenja struje curenja.Doc. dr Milan M. Simić2
7.ATE – Automatska test oprema.Doc. dr Milan M. Simić2
8.Osnovni gradivni blokovi ATE sistema.Doc. dr Milan M. Simić2
9.Princip rada elektronskih brojača.Doc. dr Milan M. Simić2
10.Ugrađeno samotestiranje – Built in Self Test (BIST).Doc. dr Milan M. Simić2
11.Opšta blok šema BIST sistema.Doc. dr Milan M. Simić2
12.Lokalizacija greške i dijagnostika otkaza primenom ATE sistema.Doc. dr Milan M. Simić2
13.Osnovni tipovi otkaza kod TTL kola.Doc. dr Milan M. Simić2
14.Pouzdanost automatske test opreme.Doc. dr Milan M. Simić2
15.Mikrosenzori i osnovi MEMS-a.Doc. dr Milan M. Simić2

RAČUNSKE VEŽBE
Izvođač nastave:
Nastavnici i saradnici Katedre, prema utvrđenom nedeljnom rasporedu

NedeljaNastavna jedinicaIzvođač nastaveBroj časova
1.Apsolutna i relativna greška merenja; Klasa tačnosti mernih uređaja.Dr Jelena Đorđević Kozarov2
2.Diskretna greška digitalnih metoda merenja.Dr Jelena Đorđević Kozarov2
3.Analagno digitalni konvertori.Dr Jelena Đorđević Kozarov2
4.Digitalno merenje frekvencije, periode i faze.Dr Jelena Đorđević Kozarov2
5.Elektronska kola sa operacionim pojačavačima.Dr Jelena Đorđević Kozarov2
6.Primena Q-metra.Dr Jelena Đorđević Kozarov2
7.Merenje strujno-naponskih  parametara i karakteristika dioda.Dr Jelena Đorđević Kozarov2
8.Merenje kapacitivnosti diode.Doc. dr Jelena R. Jovanović2
9.Merenje napona proboja Zener diode.Doc. dr Jelena R. Jovanović2
10.Merenje dinamičke otpornosti Zener diode.Doc. dr Jelena R. Jovanović2
11.Merenje parametara i karakteristika tranzistora.Doc. dr Jelena R. Jovanović2
12.Merenje parametara i karakteristika tranzistora.Doc. dr Jelena R. Jovanović2
13.Primena analognih i digitalnih osciloskopa.Doc. dr Jelena R. Jovanović2
14.Primena analognih i digitalnih osciloskopa.Doc. dr Jelena R. Jovanović2

LABORATORIJSKE VEŽBE
Izvođač nastave: Nastavnici i saradnici Katedre, prema utvrđenom nedeljnom rasporedu

NedeljaNastavna jedinicaIzvođač nastaveBroj časova
1.Merenje statičkih karakteristika dioda.Doc. dr Jelena R. Jovanović2
2.Merenje dinamičkih karakteristika dioda.Doc. dr Jelena R. Jovanović2
3.Merenje statičkih karakteristika MOS tranzistora.Doc. dr Jelena R. Jovanović2
4.Merni konvertori električnih veličina na bazi operacionih pojačavača.Doc. dr Jelena R. Jovanović2
5.Rad sa analognim osciloskopom i digitalnim generatorima signala.Doc. dr Jelena R. Jovanović2
6.Primena digitalnog osciloskopa.Doc. dr Jelena R. Jovanović2